Capire il vostro Problema
Il cliente riferisce presenza di contaminazione da materiale nero polverulento all'interno di un tubo in silicone.
Fornirvi la Soluzione
La microanalisi elementare SEM-EDS del materiale nero contaminante evidenzia la presenza di rame e zolfo oltre a silicio, ossigeno e carbonio.
Il rame e lo zolfo indicano la presenza di solfuri di zolfo: il rapporto in atomi Cu/S è circa 1 ed è indicativo del solfuro di rame II (CuS - nero).
Il silicio è riferibile a residui di silicone del tubo, mentre il carbonio e l'ossigeno sono in parte riferibili a residui di silicone e in parte ad altro materiale organico.
CONTAMINAZIONE --> CuS (nero)
L’analisi chimica (microanalisi) nel microscopio elettronico (SEM) a scansione viene realizzata misurando l’energia e la distribuzione delle intensità dei raggi X generati dal fascio elettronico sul campione utilizzando un rivelatore a dispersione di energia EDS ( spettrometria per dispersione di energia).
Il SEM+EDS è un potente mezzo di indagine su solidi chimicamente disomogenei a scala microscopica e su rivestimenti.
SIAMO SEMPRE A VOSTRA DISPOSIZIONE PER ANALIZZARE I VOSTRI CAMPIONI E FORNIRVI UNA SOLUZIONE O CONSULENZA PER MIGLIORARE IL VOSTRO PRODOTTO FINITO.
